Keithley 4200A-SCS 参数分析仪
使用 4200A-SCS 加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 业内领先性能参数分析仪，提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量。
产品技术资料
型号
描述
查看产品技术资料
4200A-SCS-PK1
高分辨率 IV 套件210V/100mA，0.1 fA 分辨率
用于两端器件和三端器件、MOSFET、CMOS 检定 4200A-SCS-PK1 套件包括：
查看产品技术资料
4200A-SCS-PK2
高分辨率 IV 和 CV 套件210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz
用于高 κ 电介质、深度亚微米 CMOS 检定 4200A-SCS-PK2 套件包括：
查看产品技术资料
4200A-SCS-PK3
高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz
用于功率器件、高 κ 电介质、深度亚微米 CMOS 检定 4200A-SCS-PK3 套件包括：
查看产品技术资料
4200-BTI-A
超快 NBTI/PBTI 套件用于使用尖端硅 CMOS 技术进行的复杂 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 套件包括：
上一篇：返回列表